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LCR8101G 高精度LCR測(cè)試儀

簡(jiǎn)要描述:LCR8101G 高精度LCR測(cè)試儀
LCR8110G|LCR8105G|LCR8101G可視化方式顯示測(cè)量數(shù)據(jù)的圖表模式,將以圖表形式顯示組件的阻抗特性隨著掃描頻率或電壓的變化。這將使分析阻抗的頻率或電壓特性一目了然。標(biāo)配RS232和GPIB接口。

  • 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
  • 更新快照:2017-02-07
  • 訪  問(wèn)  量:1278

詳細(xì)介紹

LCR8101G 高精度LCR測(cè)試儀
LCR8110G|LCR8105G|LCR8101G介紹

LCR-8000G LCR表的系列測(cè)試頻率1MHz 5MHz 10MHz三個(gè)型號(hào)LCR-8110G|LCR-8105G|LCR-8101G,具有精確、多功能和高分辨率的特點(diǎn),包括DC直流電阻測(cè)量和電壓電流監(jiān)測(cè)功能。多步驟測(cè)試功能可以在屏幕上編程定制PASS通過(guò)/FAIL不通過(guò)判定。每組編程包括30組測(cè)試步驟,每個(gè)測(cè)試步驟可以設(shè)定適當(dāng)?shù)膮?shù)及測(cè)試限制。在多步驟操作時(shí),原本枯燥乏味的工作流程就可以一鍵搞定。LCR8110G|LCR8105G|LCR8101G可視化方式顯示測(cè)量數(shù)據(jù)的圖表模式,將以圖表形式顯示組件的阻抗特性隨著掃描頻率或電壓的變化。這將使分析阻抗的頻率或電壓特性一目了然。標(biāo)配RS232和GPIB接口。

LCR8110G|LCR8105G|LCR8101G性能 LCR8101G 高精度LCR測(cè)試儀

•  20Hz-1MHz/5MHz/10MHz 寬廣的測(cè)試頻率 (LCR-8101G / LCR-8105G / LCR-8110G)

•  6 位顯示分辨率

•  10mV-2V 測(cè)量電平 (DC/20Hz~3MHz)

   10mV-1V 測(cè)量電平 (3MHz 以上)

•  0.1% 基本測(cè)量精確度

LCR8110G|LCR8105G|LCR8101G特點(diǎn) 

•  特定頻率點(diǎn)測(cè)量

•  多步驟測(cè)量,zui多 64 組程序,每個(gè)程序zui多 30 個(gè)步驟

•  即時(shí)測(cè)量數(shù)值顯示

•  以相對(duì)于標(biāo)稱(chēng)值的值差值或百分比差值方式度量

•  Pass/Fail測(cè)試

•  四線連接+接地的高精度測(cè)量夾具

•  夾具微調(diào),開(kāi)路或短路校準(zhǔn)

•  條棒顯示方式能方便地調(diào)整可變參數(shù)值

•  可視化方式顯示測(cè)量數(shù)據(jù)的圖表模式

•  斷電后自動(dòng)保存面板設(shè)定

•  320x240 分辨率超大 LCD顯示

•  友善的用戶界面,豐富的測(cè)量功能

LCR8110G|LCR8105G|LCR8101G接口  

•  GPIB

•  RS232

LCR8110G|LCR8105G|LCR8101G測(cè)量建議事項(xiàng):

/低阻抗:如果被測(cè)的阻抗高于 1K?,可以不使用標(biāo)準(zhǔn)的 4 線連接。運(yùn)行短路校準(zhǔn)以消除串聯(lián)連線阻抗的影響。如果被測(cè)的阻抗低于 1K?,4 線連接可以降低被測(cè)組件接觸電阻的影響。

金屬組件連接:一個(gè)大面積的金屬可以給測(cè)量帶來(lái)很多噪聲,此處講述如何降低此效應(yīng)。 當(dāng)該金屬被連接到測(cè)試端時(shí),應(yīng)連接至 Hforce (黃色) 端。 當(dāng)該金屬未被連接至測(cè)試端時(shí),將其與 GND 端子

連接。

中小電容器:當(dāng)測(cè)量小數(shù)值,表面貼裝尺寸的電容器,在測(cè)量頻率(Spot Trimming)下進(jìn)行開(kāi)路校準(zhǔn),以消除測(cè)量電路本身電容的影響。確保校準(zhǔn)時(shí),測(cè)試線的位置是固定的。

中小電感器:當(dāng)測(cè)量小數(shù)值,表面貼裝尺寸的電感器,在測(cè)量頻率(Spot Trimming)下進(jìn)行短路校準(zhǔn)。LCR8000G 測(cè)量短路校準(zhǔn)電感與被測(cè)器件電感之差。建議使用四線夾具并確保校準(zhǔn)時(shí),測(cè)試線的位置是固定的。

線電容:當(dāng)測(cè)量線電容,標(biāo)有 HF (High Force) / HS (High Sense)的夾具始終連接到噪聲影響zui大的位置。

線電感:導(dǎo)線電感應(yīng)從測(cè)量結(jié)果中減去。 5cm,1mm直徑的導(dǎo)線電感約 50nH ;5cm,2mm直徑的導(dǎo)線電感約40nH   

測(cè)量電感時(shí)的頻率因素 當(dāng)一個(gè)電感在遠(yuǎn)低于其設(shè)計(jì)頻率的頻率下被測(cè)量時(shí) (例如,一個(gè)高頻扼流圈在音頻范圍被測(cè)量時(shí)),電感往往表現(xiàn)為感性電阻器。在這種情況下,測(cè)量精度以(1 + 1/Q) 的倍數(shù)擴(kuò)大,Q 是品質(zhì)因子。

空氣芯線圈  空氣芯線圈可以很容易引起噪聲,因此他們應(yīng)避開(kāi)任何可能含有變壓器或顯示掃描電路的測(cè)試儀器。此外,保持線圈遠(yuǎn)離可能影響電感特性的金屬物體。

LCR8110G|LCR8105G|LCR8101G測(cè)量項(xiàng)目

主要測(cè)量值:電容 (C)、電感 (L) 、電抗 (X)、電納 (B) (=1/X) 、阻抗 (Z)、導(dǎo)納 (Y) (=1/Z) 、直流電阻 (RDC)  

次要測(cè)量值:交流電阻 (RAC)、品質(zhì)因數(shù) (Q)(=1/D)、損耗因數(shù) (D)、相位角 (θ) (Z 和 Y) 、電導(dǎo) (G)

LCR8110G|LCR8105G|LCR8101G測(cè)試范圍

R, Z, X

0.1mΩ-100MΩ

G, Y, B

10nS-1000S

L

0.1nH-100kH

C

0.01pF-1F

D

0.00001-9.9999

Q

0.1-9999.9

θ

-180°-  +180°

Rdc

0.1mΩ-100MΩ

LCR8110G|LCR8105G|LCR8101G規(guī)格指標(biāo)

測(cè)試頻率

20Hz ~ 10MHz, 5 位數(shù), ±0.005%

輸入阻抗

100Ω

基本準(zhǔn)確度 (*)

±0.1% (R, Z, X, G, Y, B, L, C)

測(cè)試速度

交流 (> 2kHz)

直流

zui大(MAX): 75mS

zui大(MAX): 30mS

快速(FAST): 150mS

快速(FAST): 60mS

中速(MEDIUM): 450mS

中速(MEDIUM): 120mS

慢速(SLOW): 600mS

慢速(SLOW): 900mS

測(cè)試信號(hào)位準(zhǔn)

≦3MHz:10mV~2Vrms, 1mV/Step or 10mV/Step, 2%±5mV
>3MHz:10mV~1Vrms, 1mV/Step or 10mV/Step, 2%±5mV

短路電流

Max. 20mA

量測(cè)范圍

R, Z, X

0.1mΩ ~ 100MΩ

G, Y, B

10nS ~ 1000S

L

0.1nH ~ 100kH

C

0.01pF ~ 1F

D

0.00001 ~ 9.9999

Q

0.1 ~ 9999.9

θ

-180° ~ +180°

Rdc

0.1mΩ ~ 100MΩ

量測(cè)參數(shù)

阻抗 (Z), 相位角 (θ), 電感 (L), 電容 (C),
交流電阻 (Rac), 品質(zhì)因子 (Q), 損失因子 (D),
導(dǎo)納 (Y), 電導(dǎo) (G), 電抗 (X), 電納 (B),
直流電阻 (Rdc)

串聯(lián) / 并聯(lián)等效電路

C + R, C + D, C + Q, L + R, L + Q, L + D

串聯(lián)等效電路

X + R, X + D, X + Q

并聯(lián)等效電路

C + G, B + G, B + D, B + Q, B + R, L + G

POLAR FORM

Z + Phase Angle, Y + Phase Angle

平均

1 ~ 256次

LCD顯示屏

320 x 240 DOT-MATRIX

界面

RS-232, GPIB

使用電源

AC 115V(+10% / -25%), 230V(+15% / -14%) (可選擇), 50/60Hz

尺寸及重量

330(寬) x 170(高) x 340(深)mm, 約5公斤

基本準(zhǔn)確度會(huì)隨測(cè)試條件, 如測(cè)試速度/頻率/交流電壓準(zhǔn)位或待測(cè)物之阻抗而改變.

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